Carte de machine d'essai à 58 couches
Ce PCB de précision à 58-couches ultra-haute-couche est spécialement conçu pour les équipements de test-haut de gamme, avec une épaisseur de carte finie de 5,5 mm. Adoptant un substrat haute vitesse -haut de gamme Panasonic M6G, il s'agit d'une carte de circuit imprimé haut de gamme-processus extrême-dans l'industrie. Brisant les goulots d'étranglement de fabrication traditionnels, il atteint un rapport d'aspect carte à trou ultra-élevé-à-de 28:1 et une capacité de circuit ultra-fin de 0,07 mm/0,08 mm. La structure empilée ultra-multi-couche prend en charge une disposition massive des canaux de signal indépendants, garantissant une conduction fiable des -trous profonds, un routage de lignes fines ultra-dense-et une excellente stabilité dimensionnelle. Il répond pleinement aux exigences strictes des tests de puces de haute-précision, de l'acquisition de signaux faibles et des tests synchrones multicanaux, servant de carte mère de base pour les équipements de test sophistiqués.
Description
Spécifications de base
- Calques: 58 couches
- Épaisseur du panneau fini: 5,5 mm
- Rapport d'aspect carte-à-trou : Rapport d'aspect ultra-ultra : 28:1, permettant une galvanoplastie et une conduction fiables pour les micro-trous profonds sur les cartes épaisses
- Largeur / Espacement des lignes : Circuit ultra fin -de 0,07 mm / 0,08 mm, améliorant considérablement la densité de câblage
- Matériel : Substrat Panasonic M6G haute vitesse-avec une excellente résistance à la chaleur, une faible dilatation thermique et des performances d'impédance stables
Avantages principaux
- 58 -couches ultra-high stack-up, forte intégration multicanal : La pile à 58-couches haute-densité-distribue raisonnablement les couches de signaux, les couches de puissance et les couches de masse, prenant en charge des centaines de canaux de signaux de test indépendants sans épissage multi-cartes, ce qui simplifie la structure interne de l'équipement de test. La technologie professionnelle de multi-stratification contrôle efficacement le gauchissement et la déformation des cartes, garantissant une précision d'assemblage élevée et des paramètres électriques stables lors de tests continus à long terme.
- Rapport d'aspect extrême 28 : 1, conduction profonde sans-trous-de défauts : Visant les difficultés de traitement des micro-trous sur des planches de 5,5 mm d'épaisseur, il adopte un perçage de trous profonds de précision-et une technologie de galvanoplastie de cuivre d'épaisseur uniforme. Les parois des trous présentent un placage complet sans vides ni fissures, garantissant une conduction hautement cohérente et éliminant les erreurs de données de test causées par un mauvais contact, afin de garantir des résultats de détection précis et fiables.
- Circuit ultra-fin de 0,07 mm pour un câblage dense de micropuces : La largeur de ligne ultra fine de 0,07 mm et l'espacement des lignes de 0,08 mm maximisent la capacité de câblage par unité de surface. Il est parfaitement adapté à la disposition dense des puces micro BGA et des modules de test de sondes haute-densité, avec une faible perte de transmission de signal faible et une forte capacité anti-interférence pour des scénarios de collecte de microsignaux de haute-précision.
- Substrat Panasonic M6G à haute-stabilité pour un fonctionnement à long-terme : Le substrat industriel haute vitesse-Panasonic M6G possède une Tg élevée, une faible dilatation thermique, une résistance exceptionnelle à l'humidité et aux chocs thermiques. Il évite le délaminage et les bulles après plusieurs cycles de laminage à haute température-. Avec une impédance constante et des fluctuations dimensionnelles et électriques négligeables dans des conditions de cycles de température, il est hautement applicable pour la -puissance répétée à long terme- lors des tests d'équipements de test de précision.
Champs d'application
Équipement de test de sonde à puce, équipement de détection automatique de semi-conducteurs, instruments de test de signaux de haute-précision, cartes mères de test de précision de contrôle industriel et systèmes de contrôle de test multicanal-de laboratoire.
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